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海克斯康超高精度三坐標(biāo)測量儀Leitz Reference Xi概述
將Leitz高性能的掃描技術(shù)應(yīng)用于新型Leitz Reference Xi最新，提供了豐富的測量選擇：從連接自動旋轉(zhuǎn)測座TESASTAR-m的LSP-X1掃描探測系統(tǒng)，到配備固定式掃描探測系統(tǒng)LSP-X3c 一直到LSP-X5處理方法，能夠在配備加長探針的情況下保持高精度製造業。
在各種配置下提供一如既往的高精度 – 無論是分度還是固定式探測系統(tǒng)。通過配備支持多測頭的控制器關規定，Leitz Reference Xi系列測量機還能夠配備影像測頭發展基礎。
Leitz Reference Xi – “Xi" 代表著系統(tǒng)具備充分的“靈活性"。
航◤姳Ｗo？怂箍党呔热鴺?biāo)測量儀Leitz Reference Xi特點
★ 活動橋式機構(gòu)同期，配備獲得專LI的TRICISION™ 技術(shù)
★ 高分辨率AURODUR 鋼制光柵生產效率，配備自動溫度補償技術(shù)
★ 花崗石工作臺配以一體式燕尾導(dǎo)軌
★ 采用預(yù)載荷空氣軸承
★ 可提供各種Leitz三維探測系統(tǒng)：LSP-X5、LSP-X3c效果、以及配備TESASTAR-m 的LSP-X1s/h
★ 選項：自動探針更換架
