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日本日置C測試儀3504-50概述
封裝機追求卓越、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
■ BIN功能
C測量根據(jù)測量值多分類為14個等級※1深入，易于進行分揀等深入交流。 ※1 3506,3505多為13個等級大部分。3504-40無BIN功能發展成就。
■ 比較器功能
第yi參數(shù)(C)求得平衡、第2參數(shù)(D)可各自設置上下限值方便。判定結(jié)果可進行蜂鳴優化程度、LED顯示以及外部輸出積極性，設定值始終顯示。
■ 存儲功能
測量數(shù)據(jù)可保存在主機不斷豐富嵤w系？赏ㄟ^GP-IB組建，RS-232C讀出⌒Ч^好！?506-10 ………………………………..1,000個 3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000個
■ 只需選擇的簡單操作&LED顯示
只需從面板標記項目中進行選擇重要的意義，操作簡單。設定好的測量條件會點亮等多個領域，能夠一目了然把握設定條件再獲。
■ 觸發(fā)同步輸出功能
施加觸發(fā)后輸出測量信號，僅在測量時將信號施加到被測物上應用擴展。因為是在接觸被測物時流過大電流體驗區，因此能夠減少接點的損耗。
■可存儲99※2組測量條件
多可保存99組測量條件活動上，可迅速對應在重復測量較多的產(chǎn)線上切換被測物的情況有望。可利用EXT I/O讀出任意測量條件導向作用。 ※2 3506-10多為70組方案。
■標配接觸檢查功能
可檢測出測量過程中的接觸錯誤∈笮袆?？闪硗夤芾碛羞^接觸錯誤的樣品左右，對提高成品率做出貢獻。
日本日置C測試儀3504-50特點
★ 高速測量2ms
★ 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值特性，進行被測物合格與否的判斷
★ 對應測試線傳承，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
★ 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
★ 3504-40記錄工具等特點，實現(xiàn)高速/低成本的測試
★ 查出全機測量中的接觸錯誤建言直達，提高成品率
